Taavi Raadik
Książka ta skupia się na zastosowaniu spektroskopii foto- i elektrorelfleksyjnej zależnej od temperatury w celu zbadania nowych i potencjalnych materiałów wykorzystywanych w przetwarzaniu energii słonecznej. Fotoreflektancja i elektrorflektancja należą do technik spektroskopii modulacyjnej, w których podczas pomiarów odbicia stosuje się modulację zewnętrzną w odniesieniu do jednego parametru systemu. W ramach technik zastosowanych w niniejszej pracy okresowo modulowanym parametrem było wbudowane pole elektryczne powierzchniowe/wewnętrzne. Zmiany pola elektrycznego powodują zmiany złożonej funkcji dielektrycznej, co z kolei ma bezpośredni wpływ na zdolność odbicia materiału. Zarejestrowane spektrum modulowanego współczynnika odbicia miało charakter trzeciej pochodnej w pobliżu przejść międzypasmowych. Metody te pozwoliły nam oszacować energię przerwy energetycznej badanych materiałów z dość dużą dokładnością, a dodatkowo ocenić jakość kryształów. Główną zaletą spektroskopii fotorefleksyjnej i elektrorfleksyjnej w porównaniu z innymi technikami charakteryzacji optycznej jest to, że są one nieniszczące, proste, można je stosować w temperaturze pokojowej i charakteryzują się wysoką dokładnością.
